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探針冷熱臺(tái)是面向材料變溫電學(xué)測(cè)試研發(fā)的專項(xiàng)設(shè)備，可精確表征材料在升降溫過程中電學(xué)性能的變化規(guī)律。 該設(shè)備在光學(xué)冷熱臺(tái)基礎(chǔ)上集成專項(xiàng)電學(xué)模塊，包含探針、位移及電學(xué)接口。通過調(diào)控探針位移，能實(shí)現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精確接觸；電信號(hào)經(jīng)探針、信號(hào)線及接口等傳輸至源表、數(shù)字萬(wàn)用表等外部測(cè)量?jī)x器，從而采集電學(xué)數(shù)據(jù)，完成材料不同溫度下電學(xué)特性的分析研究。
探針冷熱臺(tái)是面向材料變溫電學(xué)測(cè)試研發(fā)的專項(xiàng)設(shè)備，可精確表征材料在升降溫過程中電學(xué)性能的變化規(guī)律。 該設(shè)備在光學(xué)冷熱臺(tái)基礎(chǔ)上集成專項(xiàng)電學(xué)模塊，包含探針、位移及電學(xué)接口。通過調(diào)控探針位移，能實(shí)現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精確接觸；電信號(hào)經(jīng)探針、信號(hào)線及接口等傳輸至源表、數(shù)字萬(wàn)用表等外部測(cè)量?jī)x器，從而采集電學(xué)數(shù)據(jù)，完成材料不同溫度下電學(xué)特性的分析研究。
聯(lián)系人：趙先生
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